一、GB/T2423 有以下51個標(biāo)準(zhǔn)組成：
1 GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗A: 低溫
2 GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗B: 高溫
3 GB/T 2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法
4 GB/T 2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db: 交變濕熱試驗方法
5 GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 **部分：試驗方法 試驗Ea和導(dǎo)則: 沖擊
6 GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 **部分: 試驗方法 試驗Eb和導(dǎo)則： 碰撞
7 GB/T 2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 **部分: 試驗方法 試驗Ec和導(dǎo)則: 傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品)
8 GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 **部分: 試驗方法 試驗Ed: 自由跌落
9 GB/T 2423.9-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Cb: 設(shè)備用恒定濕熱
10 GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 **部分: 試驗方法 試驗Fc和導(dǎo)則: 振動(正弦)
11 GB/T 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fd: 寬頻帶隨機振動--一般要求
12 GB/T 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fda: 寬頻帶隨機振動--高再現(xiàn)性
13 GB/T 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fdb: 寬頻帶隨機振動 中再現(xiàn)性
14 GB/T 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fdc: 寬頻帶隨機振動 低再現(xiàn)性
15 GB/T 2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 **部分: 試驗方法 試驗Ga和導(dǎo)則: 穩(wěn)態(tài)加速度
16 GB/T 2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗J和導(dǎo)則: 長霉
17 GB/T 2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ka: 鹽霧試驗方法
18 GB/T 2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 **部分: 試驗--試驗Kb:鹽霧, 交變(氯化鈉溶液)
19 GB/T 2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kc: 接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法
20 GB/T 2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kd: 接觸點和連接件的硫化氫試驗方法
21 GB/T 2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 M: 低氣壓試驗方法
22 GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化
23 GB/T 2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Q:密封
24 GB/T 2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 **部分: 試驗方法 試驗Sa: 模擬地面上的太陽輻射
25 GB/T 2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM: 低溫／低氣壓綜合試驗
26 GB/T 2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BM: 高溫／低氣壓綜合試驗
27 GB/T 2423.27-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AMD:低溫/ 低氣壓 /濕熱連續(xù)綜合試驗方法
28 GB/T 2423.28-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗T:錫焊試驗方法
29 GB/T 2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗U:引出端及整體安裝件強度
30 GB/T 2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗XA和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬
31 GB/T 2423.31-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 傾斜和搖擺試驗方法
32 GB/T 2423.32-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 潤濕稱量法可焊性試驗方法
33 GB/T 2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗方法
34 GB/T 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AD: 溫度/ 濕度組合循環(huán)試驗方法
35 GB/T 2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗方法
36 GB/T 2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗方法
37 GB/T 2423.37-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 L: 砂塵試驗方法
38 GB/T 2423.38-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 R: 水試驗方法
39 GB/T 2423.39-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ee: 彈跳試驗方法
40 GB/T 2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
41 GB/T 2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 風(fēng)壓試驗方法
42 GB/T 2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 低溫/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗方法
43 GB/T 2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 **部分: 試驗方法 元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊(Ea)、碰撞
(Eb) 、振動(Fc和Fb)和穩(wěn)態(tài)加速度(Ca)等動力學(xué)試驗中的安裝要求和導(dǎo)則
44 GB/T 2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 **部分: 試驗方法 試驗Eg: 撞擊 彈簧錘
45 GB/T 2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABDM：氣候順序
46 GB/T 2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ef：撞擊 擺錘
47 GB/T 2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fg: 聲振
48 GB/T 2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Ff: 振動--時間歷程法
49 GB/T 2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fe: 振動--正弦拍頻法
50 GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗
51 GB/T 2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Ke: 流動混合氣體腐蝕試驗
二、GB2421-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 總則
三、GB/T2422-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 術(shù)語
四、GB2424
1.GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則
2.GB/T2424.2-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 濕熱試驗導(dǎo)則
3.GB/T2424.9-90 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 長霉試驗導(dǎo)則
4.GB/T2424.10-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 大氣腐蝕加速試驗的通用導(dǎo)則
5.GB/T2424.11-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 接觸點和鏈接件的二氧化硫試驗導(dǎo)則
6.GB/T2424.12-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 接觸點和連接件的硫化氫試驗導(dǎo)則
7.GB/T2424.13-81 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度變化試驗導(dǎo)則
8.GB/T2424.14-1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2部分 ：試驗方法 太陽輻射試驗導(dǎo)則
9.GB/T2424.15-92 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度/低氣壓綜合試驗導(dǎo)則
10.GB/T2424.17-1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 錫焊試驗導(dǎo)則
11.GB/T2424.18-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 在清洗濟中浸漬試驗導(dǎo)則
12.GB/T2424.19-84 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 模擬儲存影響的環(huán)境試驗導(dǎo)則
13.GB/T2424.20-85 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 傾斜和搖擺試驗導(dǎo)則
14.GB/T2424.21-85電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 潤濕稱量法可焊性試驗導(dǎo)則
15.GB/T2424.22-86電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度（低溫、高溫）和振動（正 玄）綜合試驗導(dǎo)則
16.GB/T2424.23-90電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 水試驗導(dǎo)則
17.GB/T2424.24-1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正玄）綜合試驗導(dǎo)則
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| | GB2423-1 | 低溫試驗方法 | GB2423-25 | 試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗 |
|---|
| | GB2423-2 | 高溫試驗方法 | GB2423-26 | 試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗 |
|---|
| | GB2423-3 | 恒定濕熱試驗方法 | GB2423-27 | 試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合 |
|---|
| | GB2423-4 | 交變濕熱試驗方法 | GB2423-28 | 試驗T：錫焊試驗方法 |
|---|
| | GB2423-5 | 試驗Ea和導(dǎo)則沖擊 | GB2423-29 | 試驗U：引出端及整體安裝件強度 |
|---|
| | GB2423-6 | 試驗Eb和導(dǎo)則碰撞 | GB2423-30 | 試驗XA：在清洗劑中浸漬 |
|---|
| | GB2423-7 | 試驗Ec和導(dǎo)則傾跌與翻倒 | GB2423-31 | 傾斜和搖擺試驗方法 |
|---|
| | GB2423-8 | 試驗Ed：自由跌落 | GB2423-32 | 潤濕稱量法可焊性試驗方法 |
|---|
| | GB2423-9 | 試驗Cb：設(shè)備用恒定溫?zé)嵩囼灧椒?/font> | GB2423-33 | 試驗Kca：高濃度二氧化硫試驗方法 |
|---|
| | GB2423-10 | 試驗Fc和導(dǎo)則：振動（正弦） | GB2423-34 | 試驗Z/AD：溫度/濕度組合徨試驗方法 |
|---|
| | GB2423-11 | 試驗：寬頻帶隨機振動——一般要求 | GB2423-35 | 試驗樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗方法 |
|---|
| | GB2423-12 | 試驗Fda：寬頻帶隨機振動－高再現(xiàn)性 | GB2423-36 | 高溫/振動（正弦）綜合試驗方法 |
|---|
| | GB2423-13 | 試驗Fdb：寬頻帶隨機振動－中再現(xiàn)性 | GB2423-37 | 試驗L：砂塵試驗方法 |
|---|
| | GB2423-14 | 試驗Fdc：寬頻帶隨機振動－低再現(xiàn)性 | GB2423-38 | 試驗R：水試驗方法 |
|---|
| | GB2423-15 | 試驗Ga和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度 | GB2423-39 | 試驗Ee：彈跳試驗方法 |
|---|
| | GB2423-16 | 試驗J：長霉試驗方法 | GB2423-40 | 試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱 |
|---|
| | GB2423-17 | 試驗Ka：鹽霧試驗方法 | GB2423-41 | 風(fēng)壓試驗方法 |
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| | GB2423-18 | 試驗Kb：交變鹽霧試驗方法 | GB2423-42 | 低溫/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗方法 |
|---|
| | GB2423-19 | 試驗Kc：接觸點和連接件的二氧化硫 | GB2423-43 | 元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊（Ea）、碰撞（Eb）、振動（Fc和Fd）和穩(wěn)態(tài)加速度（Ga）等動力學(xué)試驗中的安裝要求和導(dǎo)則 |
|---|
| | GB2423-20 | 試驗Kd：接觸點和連接件的硫化氫 | GB2423-44 | 試驗Eg：撞擊 彈簧錘 |
|---|
| | GB2423-21 | 試驗M：低氣壓試驗方法 | GB2423-45 | 試驗Z/ABDM：氣候順序 |
|---|
| | GB2423-22 | 試驗N：溫度變化試驗方法 | GB2423-46 | 試驗Ef：撞擊 擺錘 |
|---|
| | GB2423-23 | 試驗Q：密封 | GB2423-47 | 試驗Fg：聲振 |
|---|
| | GB2423-24 | 試驗Sa：模擬地面上的太陽輻射 | GB2423-48 | 試驗Ff：振動-時間歷程法 |
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標(biāo)準(zhǔn)編號 標(biāo) 準(zhǔn) 名 稱
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GB10586-89 濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB10587-89 鹽霧試驗箱技術(shù)條件
GB10588-89 長霉試驗箱技術(shù)條件
GB10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10590-89 低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件
GB10591-89 高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件
GB10592-89 高、低溫試驗箱技術(shù)條件
GB11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB11159-89 低氣壓試驗箱技術(shù)條件
GB/T5170.1-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備
GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備
GB/T5170.8-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 鹽霧試驗設(shè)備
GB/T5170.9-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 太陽輻射試驗設(shè)備
GB/T5170.10-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備
GB/T5170.11-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 腐蝕氣體試驗設(shè)備
GB5170.13-85 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動（正弦）試驗用機械振動臺
GB5170.14-85 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動（正弦）試驗用電動振動臺
GB5170.15-85 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振 動（正弦）試驗用液壓振動臺
GB5170.16-85 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 恒加速度試驗用離心式試驗機
GB5170.17-87 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備
GB5170.18-87 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備
GB5170.19-89 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動（正弦）綜合試驗設(shè)備
GB5170.20-90 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗設(shè)備
GB2421-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 總則
GB/T2422-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 術(shù)語
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法
GB/T2423.3-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法
GB/T2423.4-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db：交變濕熱試驗方法
GB/T2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ea和導(dǎo)則：沖擊
GB/T2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第3部分：試驗方法 試驗Eb和導(dǎo)則：碰撞
GB/T2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第4部分：試驗方法 試驗Ec和導(dǎo)則：傾跌與翻倒 （主要用于設(shè)備樣品）
GB/T2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第5部分：試驗方法 試驗Ed：自由跌落
GB2423.9-89 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Cb：設(shè)備用恒定濕熱試驗方法
GB/T2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fc和導(dǎo)則：振動（正弦）
GB/T2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fd：寬頻帶隨機振動—一般要求
GB/T2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fda：寬頻帶隨機振動—高再現(xiàn)性
GB/T2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fdb：寬頻帶隨機振動—中再現(xiàn)性
GB/T2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fdc：寬頻帶隨機振動—低再現(xiàn)性
GB/T2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ga和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度
GB/T2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J和導(dǎo)則：長霉
GB/T2423.17-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ka：鹽霧試驗方法
GB2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kb：交變鹽霧試驗方法（氯化鈉溶液）
GB2423.19-81 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kc：接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法
GB2423.20-81 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kd：接觸點和連接件的硫化氫試驗方法
GB2423.21-91 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M：低氣壓試驗方法
GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N：溫度變化試驗方法
GB/T2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Q：密封
GB/T2423.24-1995 電工電了產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Sa：模似地面上的太陽輻射
GB/T2423.25-92 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗
GB/T2423.26-92 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗
GB2423.27-81 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗方法
GB2423.28-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗T：錫焊試驗方法
GB2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗U：引出端及整體安裝件強度
GB2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第3部分：試驗方法 試驗XA和導(dǎo)則：在清洗劑中浸漬
GB2423.31-85 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 傾斜和搖擺試驗方法
GB2423.32-85 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 潤濕稱量法可焊性試驗方法
GB2423.33-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kca：高濃度二氧化硫試驗方法
GB2423.34-86 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法
GB2423.35-86 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動
（正弦）綜合試驗方法
GB2423.36-86 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BFc：散熱和非散熱樣品的高溫/振動（正弦）
綜合試驗方法
GB2423.37-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗L：砂塵試驗方法
GB2423.38-90 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗R：水試驗方法
GB2423.39-90 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ee：彈跳試驗方法
GB/T2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx:：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
GB/T2423.41-94 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 風(fēng)壓試驗方法
GB/T2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 低溫/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗方法
GB/T2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊（Ea）、
碰撞（Eb）、振動（Ec和Fd）和穩(wěn)態(tài)加速度（Ga）等動力學(xué)試驗中的安裝要求和導(dǎo)則
GB/T2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Eg：撞擊 彈簧錘
GB/T2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABDM：氣候順序
GB/T2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ef：撞擊 擺錘
GB/T2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fg：聲振
GB/T2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ff：振動—時間歷程法
GB/T2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fe：振動—正弦拍頻法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則
GB/T2424.2-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 濕熱試驗導(dǎo)則
GB2424.9-90 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 長霉試驗導(dǎo)則
GB/T2424.10-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 大氣腐蝕加速試驗的通用導(dǎo)則
GB2424.11-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 接觸點和連接件的二氧化硫試驗導(dǎo)則
GB2424.12-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 接觸點和連接件的硫化氫試驗導(dǎo)則
GB2424.13-81 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度變化試驗導(dǎo)則
GB/T2424.14-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 太陽輻射試驗導(dǎo)則
GB/T2424.15-92 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度/低氣壓綜合試驗導(dǎo)則
GB/T2424.17-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 錫焊試驗導(dǎo)則
GB2424.18-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 在清洗劑中浸漬試驗導(dǎo)則
GB2424.19-84 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 模擬貯存影響的環(huán)境試驗導(dǎo)則
GB2424.20-85 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 傾斜和搖擺試驗導(dǎo)則
GB2424.21-85 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 潤濕稱量法可焊性試驗導(dǎo)則
GB2424.22-86 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度（低溫、高溫）和振動（正弦）綜合試驗導(dǎo)則
GB2424.23-90 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 水試驗導(dǎo)則
GB/T2424.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗導(dǎo)則
GB10593.1-89 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法 振動
GB10593.2-90 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法 鹽霧
GB10593.3-90 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法 振動數(shù)據(jù)處理和歸納
GB11804-89 電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件術(shù)語
GB4796-84 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)分類及其嚴(yán)酷程度分級
GB4797.1-84 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 溫度和濕度
GB4797.2-86 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 海拔與氣壓、水深與水壓
GB4797.3-86 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 生物
GB4797.4-89 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 太陽福射與溫度
GB/T4797.5-92 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 降水和風(fēng)
GB/T4797.6-1995 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 塵、沙、鹽霧
GB4798.1-86 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 貯存
GB/T4798.2-1996 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 運輸
GB4798.3-90 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 有氣候防護場所固定使用
GB4798.4-90 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 無氣候防護場所固定使用
GB4798.5-87 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 地面車輛使用
GB/T4798.6-1996 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 船用
GB4798.7-87 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 攜帶和非固定使用
GB/T4798.9-1997 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 產(chǎn)品內(nèi)部的微氣候
GB/T4798.10-91 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 導(dǎo)言
GB/T13952-92 移動式平臺及海上設(shè)施用電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件參數(shù)分級
GB/T16422.1/1996 塑料實驗室光源曝露試驗方法 **部分 通則
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GB/T19000.2-1994 質(zhì)量管理和保證標(biāo)準(zhǔn) **部分：GB／T19001，19002，19003
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GB/T19003-1994 質(zhì)量體系：*終檢驗和試驗的質(zhì)量保證模式
GB/T19004.3 第三部分：流程性材料指南
GB/T19004.4-1994 質(zhì)量管理和質(zhì)量體系要素 第四部分：質(zhì)量改進指南
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GB/T15498-1995 企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)體系 管理標(biāo)準(zhǔn)工作標(biāo)準(zhǔn)體系的構(gòu)成和要求
GB/T1.1-2000 標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則 第1部分：標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和編寫規(guī)則
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GB/T13264-91 不合格品率的小批計數(shù)抽樣檢查程序及抽樣表
GJB150.1-86 **設(shè)備環(huán)境試驗方法 總則
GJB150.2-86 **設(shè)備環(huán)境試驗方法 低氣壓（高度）試驗
GJB150.3-86 **設(shè)備環(huán)境試驗方法 高溫試驗
GJB150.4-86 **設(shè)備環(huán)境試驗方法 低溫試驗
GJB150.5-86 **設(shè)備環(huán)境試驗方法 溫度沖擊試驗
GJB150.6-86 **設(shè)備環(huán)境試驗方法 溫度—高度試驗
GJB150.7-86 **設(shè)備環(huán)境試驗方法 太陽輻射試驗
GJB150.8-86 **設(shè)備環(huán)境試驗方法 淋雨試驗
GJB150.9-86 **設(shè)備環(huán)境試驗方法 濕熱試驗
GJB150.10-86 **設(shè)備環(huán)境試驗方法 霉菌試驗
GJB150.11-86 **設(shè)備環(huán)境試驗方法 鹽霧試驗
GJB150.12-86 **設(shè)備環(huán)境試驗方法 砂塵試驗
GJB150.13-86 **設(shè)備環(huán)境試驗方法 爆炸性大氣試驗
GJB150.14-86 **設(shè)備環(huán)境試驗方法 浸漬試驗
GJB150.15-86 **設(shè)備環(huán)境試驗方法 加速度試驗
GJB150.16-86 **設(shè)備環(huán)境試驗方法 振動試驗
GJB150.17-86 **設(shè)備環(huán)境試驗方法 噪聲試驗
GJB150.18-86 **設(shè)備環(huán)境試驗方法 沖擊試驗
GJB150.19-86 **設(shè)備環(huán)境試驗方法 溫度—濕度—高度試驗
GJB150.20-86 **設(shè)備環(huán)境試驗方法 飛機炮振試驗
GJB150.21-87 **設(shè)備環(huán)境試驗方法
GJB150.22-87 **設(shè)備環(huán)境試驗方法
GJB150.23-91 **設(shè)備環(huán)境試驗方法 傾斜和搖擺試驗